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X射線鍍層測厚儀

MicroPioneerXRF-2000系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進
行分析,不單性能*,而且價錢*.只需數(shù)秒鐘,
便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層
鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射
自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣
品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首
飾,端子等行業(yè)的.可測量

  • 產品型號：XRF-2000
  • 廠商性質：經銷商
  • 更新時間：2018-10-26
  • 瀏覽次數(shù)：507
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X射線鍍層測厚儀  
型號：XRF-2000  
儀器資料：  
MicroPioneerXRF-2000系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進  
行分析,不單性能*,而且價錢*.只需數(shù)秒鐘,  
便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層  
鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射  
自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣  
品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首  
飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層  
厚度.  
可測元素范圍：  
鈦（Ti）–鈾（U）  
可測量厚度范圍：  
原子序22-25，0.1-0.8μm  
26-40，0.05-35μm  
43-52，0.1-100μm  
72-82，0.05-5μm  
X-射線管：油冷,超微細對焦  
高壓：0-50KV（程控）  
準直器：  
固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm  
自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm  
電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器  
綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液  
分析  
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,  
合金鍍層.  
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的  
鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核  
對方式,無需購買標準藥液.  
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定  
量分析成分含量.  
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進  
行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料  
的純度.  
統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便  
有效的控制品質.
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